굴절률 검출기(RID) 사용 시 발생하는 심각한 기준선 드리프트 및 불안정성의 주요 원인과 효과적인 해결책은 무엇인가요?

굴절률 검출기(Refractive Index Detector, RID)를 이용하여 분석을 수행할 때, 특히 장시간 분석 시 기준선이 심하게 드리프트되거나 매우 불안정하여 정량 분석의 재현성과 정확도가 크게 저하되는 문제를 자주 경험합니다. 이러한 현상이 발생하는 근본적인 원인은 무엇이며, 이를 효과적으로 진단하고 해결하여 안정적인 분석 결과를 얻을 수 있는 구체적인 방법은 무엇인지 궁금합니다. 특히, 다른 검출기(예: UV/Vis)에서는 덜 민감하게 반응하는 RID만의 특성적인 문제 해결 방안이 필요합니다.